什么是X射線(xiàn)分析儀？
??X射線(xiàn)分析儀是一種根據(jù)物體受到X射線(xiàn)照射時(shí)的熒光X射線(xiàn)光譜來(lái)分析元素含量的裝置。
X射線(xiàn)分析儀用于材料的定性和定量分析，由于可以在不破壞樣品的情況下在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行檢查，因此被用作分析材料成分的方法。
X射線(xiàn)分析儀可以測(cè)量固體和液體，作為定性分析方法相對(duì)靈敏，使其成為高度可靠的檢測(cè)設(shè)備。
X射線(xiàn)分析儀的應(yīng)用
X射線(xiàn)分析儀可以以非破壞性的方式對(duì)固體或液體樣品進(jìn)行定性和定量分析。特別用于調(diào)查合金材料和土壤中有害金屬的存在和含量。
例如，X 射線(xiàn)分析在研究成分未知的材料（例如巖石和隕石）的成分時(shí)非常有效。最近，出于環(huán)境和安全原因，人們一直在推動(dòng)印刷線(xiàn)路無(wú)鹵素，為了確保這一點(diǎn)，需要使用 X 射線(xiàn)分析儀對(duì)印刷線(xiàn)路進(jìn)行分析。也可用于危險(xiǎn)化學(xué)物質(zhì)的定性和定量測(cè)定，以及RoHS指令規(guī)定物質(zhì)的測(cè)試。此外，現(xiàn)在出現(xiàn)了易于攜帶的便攜式設(shè)備，其用途正在擴(kuò)大。X射線(xiàn)分析儀用X射線(xiàn)照射物體并測(cè)量所發(fā)射的熒光X射線(xiàn)的波長(zhǎng)（或能量）和強(qiáng)度。
當(dāng)物質(zhì)受到X射線(xiàn)照射時(shí)，其原子吸收能量，被激發(fā)，并發(fā)射熒光X射線(xiàn)。由于每種元素的熒光 X 射線(xiàn)的波長(zhǎng)（或能量）都是唯一的，因此還可以根據(jù)檢測(cè)到的熒光 X 射線(xiàn)光譜的波長(zhǎng)來(lái)識(shí)別物質(zhì)的類(lèi)型，并根據(jù)其強(qiáng)度對(duì)其進(jìn)行量化。
X 射線(xiàn)分析儀由產(chǎn)生 X 射線(xiàn)的 X 射線(xiàn)源、容納樣品的樣品室以及對(duì)產(chǎn)生的熒光 X 射線(xiàn)進(jìn)行光譜檢測(cè)的檢測(cè)單元組成。
X射線(xiàn)源通過(guò)用施加高電壓產(chǎn)生的電子束照射諸如鎢之類(lèi)的目標(biāo)來(lái)產(chǎn)生X射線(xiàn)。產(chǎn)生的 X 射線(xiàn)照射到樣品的頂面或底面。此時(shí)，您可以選擇樣品室中的氣氛，例如空氣、氮?dú)饣蛘婵铡?/font>
此外，如果使用帶有樣品觀(guān)察模式的X射線(xiàn)分析儀，您可以在觀(guān)察樣品的同時(shí)選擇照射位置。檢測(cè)器檢測(cè)來(lái)自樣品發(fā)射的元素的熒光 X 射線(xiàn)并進(jìn)行定性分析。在定量分析中，測(cè)量熒光X射線(xiàn)的強(qiáng)度，并使用校準(zhǔn)曲線(xiàn)和基本參數(shù)法（FP法）來(lái)確定含量。
X射線(xiàn)分析儀有兩種類(lèi)型的光譜和檢測(cè)方法：波長(zhǎng)色散和能量色散。能量色散 X 射線(xiàn)熒光光譜儀（縮寫(xiě)：ED-XRF 或 EDX、EDS）是一種測(cè)量熒光 X 射線(xiàn)強(qiáng)度與其能量的關(guān)系的方法。
具體而言，入射到檢測(cè)器的熒光X射線(xiàn)被檢測(cè)器內(nèi)部的半導(dǎo)體轉(zhuǎn)換成脈沖電流并放大，然后根據(jù)每個(gè)脈沖的電流值測(cè)量波高。由于入射 X 射線(xiàn)的能量與電流值成正比，因此可以獲得熒光 X 射線(xiàn)能量與強(qiáng)度的關(guān)系圖。