??X射線分析儀是一種根據(jù)物體受到X射線照射時的熒光X射線光譜來分析元素含量的裝置。

X射線分析儀用于材料的定性和定量分析，并作為分析材料成分的方法，因為它可以在短時間內(nèi)檢查而不破壞樣品。

X射線分析儀可以測量固體和液體，作為定性分析方法相對靈敏，使其成為高度可靠的檢測設(shè)備。

X射線分析儀的應(yīng)用

X射線分析儀可以以非破壞性的方式對固體或液體樣品進行定性和定量分析。特別用于調(diào)查合金材料和土壤中有害金屬的存在和含量。

例如，X 射線分析在研究成分未知的材料（例如巖石和隕石）的成分時非常有效。最近，出于環(huán)境和安全原因，人們一直在推動印刷線路無鹵素，為了確保這一點，需要使用 X 射線分析儀對印刷線路進行分析。也可用于危險化學物質(zhì)的定性和定量測定，以及RoHS指令規(guī)定物質(zhì)的測試。此外，現(xiàn)在出現(xiàn)了易于攜帶的便攜式設(shè)備，其用途正在擴大。X射線分析儀用X射線照射物體并測量所發(fā)射的熒光X射線的波長（或能量）和強度。

當物質(zhì)受到X射線照射時，其原子吸收能量，被激發(fā)，并發(fā)射熒光X射線。由于每種元素的熒光 X 射線的波長（或能量）都是唯一的，因此還可以根據(jù)檢測到的熒光 X 射線光譜的波長來識別物質(zhì)的類型，并根據(jù)其強度對其進行定量。

X 射線分析儀由產(chǎn)生 X 射線的 X 射線源、容納樣品的樣品室以及對產(chǎn)生的熒光 X 射線進行光譜檢測的檢測單元組成。

X射線源通過用通過施加高電壓產(chǎn)生的電子束照射諸如鎢之類的目標來產(chǎn)生X射線。產(chǎn)生的 X 射線照射到樣品的頂面或底面。此時，您可以選擇樣品室中的氣氛，例如空氣、氮氣或真空。

此外，如果使用帶有樣品觀察模式的X射線分析儀，您可以在觀察樣品的同時選擇照射位置。檢測器檢測來自樣品發(fā)射的元素的熒光 X 射線并進行定性分析。在定量分析中，測量熒光X射線的強度，并使用校準曲線和基本參數(shù)法（FP法）來確定含量。

X射線分析儀有兩種類型的光譜和檢測方法：波長色散和能量色散。